项目描述:
该项目的难点在于缺陷区域与背景区域的对比度差别较小、形状近似,干扰因素大;东声智能基于Handdle AI智能算法平台打造的芯片缺陷检测方案,可识别晶圆表面的污染物颗粒、表面划伤、晶体原生凹坑、凸起等缺陷。
缺陷类型:
脏污、麻点、破损、缺角、异物、原件缺失,错位、划伤;定位、测量、计数等。
智能全检 产品标准化,自由搭建门槛低 智能图像分析技术