解决方案
 
单晶硅常规组件半片组件EL检测

 项目描述:

该厂商在生产和运输单晶硅太阳能电池片常规组件过程中,极其容易产生缺陷问题。这些缺陷严重的会影响发电效率和使用寿命,这些问题在运行中就会彻底爆发出来,所以在组件从生产到安装甚至是运维阶段,都会进行EL测试。东声智能基于Handdle AI 的分割、分类等算法模块和人工智能技术推出的EL解决方案,提升了检测准确率同时降低了漏检率。



 陷类型:

隐裂、雾状发黑 、吸盘印、石墨舟印、同心圆、虚印、脏污、黑片、隐裂、虚焊、黑角、黑斑、裂片等。






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